光譜偏振/雙折射/穆勒陣列測量設備

光譜偏振儀Sci-Ral

光偏振態、雙折射（RO、Rth）和穆勒矩陣的光譜測量

?測量波長：400 至800 nm，分辨率：2 nm

?偏振態（斯托克斯譜）測量

?雙折射（高達100,000 m）、Rth 分析

?使用穆勒矩陣評估偏振特性

?高度可定制，適用于反射率測量等。

雙折射測量

?該工具可測量整個可見光范圍內光 學薄膜和波片的延遲和取向，從而實 現延遲波長色散的實際測量和評估。

?它支持高達100,000 nm 的高分辨 率相位差分析以及手動Rth 分析。

穆勒矩陣

穆勒矩陣測量可用于分別分析所有偏 振特性（線性二向色性、圓二向色性、 雙折射、旋光性和消偏振），從而能夠評估材料特性，例如相位差膜中的旋光性以及聚合物材料和納米顆粒所 表現出的線性二向色性。穆勒矩陣還 可用于模擬透射光和反射光。

偏振（斯托克斯光譜）測量

這是Sci-Ral的基本功能，用于測量光學元件等的透射/反射光的偏振狀態。 Sci-Ral可以由用戶自由設置，因此可以用于各種偏振測量。

通過測量透過圓偏光膜的光強，您可以輕松評估其特性：

- 識別圓偏光的旋轉方向

- 實現圓偏光時的波長- 圓偏光片發揮其功能的波長范圍

除了光學元件之外，還可以測量液晶投影儀等光學系統發出的光的偏振，以及偏振熒光等發光。