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  • 光譜偏振雙折射穆勒陣列測量設備

    光偏振態、雙折射（RO、Rth）和穆勒矩陣的光譜測量 ?測量波長：400 至800 nm，分辨率：2 nm ?偏振態（斯托克斯譜）測量 ?雙折射（高達100,000 m）、Rth 分析 ?使用穆勒矩陣評估偏振特性 ?高度可定制，適用于反射率測量等。

    更新時間：2025-09-16
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